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韩国进口先锋X射线光学测量金属镀层测厚仪

韩国进口先锋X射线光学测量金属镀层测厚仪

产品详情 品牌:其他 型号:H,L,PCB 工作原理:X射线测厚仪 用途:镀层测厚仪 测量范围:0.02mm 韩国微先锋Micro Pioneer XRF-2020系列测厚仪 可测试单层,双层,多层及合金镀层厚度 单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等 双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再银,铁上镀铜再镀

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