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毛细管微焦点镀层测厚仪iEDX-150μT X荧光光谱仪 莱雷科技
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毛细管微焦点镀层测厚仪iEDX-150μT X荧光光谱仪 莱雷科技

毛细管微焦点镀层测厚仪 毛细管微焦点镀层测厚仪iEDX-150uT是一种高性能高精度X荧光光谱仪,具备极高的性价比. 概况 iEDX-150uT是一种X射线荧光分析仪器。将测量用的物体（如：电路板）放在台上并开始分析，则分析第二荧光X射线是否被分析，以及所含元素的种类，并将其开发制成iEDX-150uT，用于X射线的物

120.00

库存 999

毛细管微焦点镀层测厚仪
毛细管微焦点镀层测厚仪iEDX-150uT是一种高性能高精度X荧光光谱仪,具备极高的性价比.

概况
iEDX-150uT是一种X射线荧光分析仪器。将测量用的物体（如：电路板）放在台上并开始分析，则分析第二荧光X射线是否被分析，以及所含元素的种类，并将其开发制成iEDX-150uT，用于X射线的物体调查和生成。为适应RoHS元素分析的需要，对其进行了早期的定性和定量分析， iEDX-150uT能准确完成。

软件特性
1.高性能高精度X荧光光谱仪（XRF）
2.计算机 / MCA(多通道分析仪)
  2048通道逐次近似计算法ADC（模拟数字转换器）
  Multi Ray. 运用基本参数（FP）软件，通过简单的三步进行无标样标定，使用基础参数计算方法，对样品进行的镀层厚度分析
3.MTFFP (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度
4.励磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1
  吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2
  线性模式进行薄镀层厚度测量
  相对（比）模式  无焦点测量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497 
  多镀层厚度同时测量
  单镀层应用 [如：Cu/ABS等]
  双镀层应用 [如：Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]
  三镀层应用 [如：Au/Ni-P/Cu/Brass等]
  四镀层应用 [如：Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]
  合金镀层应 [如：Sn-Pb/Cu  ]
5.Multi-Ray. WINDOWS7软件操作系统
6.完整的统计函数均值、 标准差、 低/高读数，趋势线，Cp 和 Cpk 因素等
7.自动移动平台，用户使用预先设定好的程序进行自动样品测量。测量点数量 = 每9999 每个阶段文件。每个阶段的文件有最多 25 个不同应用程序。特殊工具如"线扫描"和"格栅"。每个阶段文件包含完全统计软件包。包括自动对焦功能、方便加载函数、瞄准样品和拍摄、激光定位和自动多点测量功能。

规格

组成

名称

参数

备注

 

 

 

X射线源

光管电压

0 - 50kVp

 

光管电流

0 - 1mA

 

靶材

Mo（钼）

 

光斑

65-90um

 

射线窗口

Be（铍）

 

 

 

 

X射线探测器

探测器类型

SDD探测器

 

Cooling

Peltier

 

分辨率

125eV @5.9keV

 

探测范围

70mm2

 

探测器窗口

Be 0.5mil(12.5um)

 

滤片

材料