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CMI900 X射线荧光镀层测厚仪 仪器介绍 CMI900荧光X射线镀层测厚仪,有着非破坏,非接触,快速无损测量,多层合金测量,高生产力, 高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量,从质量管理到成本节约有着广泛的应用。 适用范围 用于电子元器件,半导体,PCB,FPC,LED支架,汽车零部件,功能性电镀,装饰件,连
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