Agilent 5110 等离子体发射光谱仪

安捷伦Agilent 5110 ICP-OES 等离子体发射光谱仪核心参数 ≤0.009nm(在200nm) 8小时,小于1%(不加内标,不采用漂移修正。 详情咨询莱顿公司 Al 396.152 0.9；Cr 267.716 0.2；Fe 238.204 0.2 ；Cd 214.439 0.08 ；Co 238.892 0.3 177～785nm 全谱直读

电感耦合等离子体原子发射光谱仪5110 ICP-OES

Agilent 5110 同步垂直双向观测 (SVDV) ICP-OES 具有独特的智能光谱组合 (DSC) 技术，可以实现同步的水平和垂直测量。配合使用垂直炬管与速度更快且无需气体吹扫的 VistaChip II CCD 检测器，5100 ICP-OES（也称作 ICP-AES）能够以一半的氩气用量来运行Zui具挑战的样品，速度可提升 55%，并且不影响任何分析性能。

安捷伦Agilent 5110 ICP-OES 等离子体发射光谱仪产品特性：

 

● 独特的智能光谱组合 (DSC) 技术可实现同步水平和垂直信号测量，消耗更少气体即可运行Zui快的 ICP-OES 分析

 

● 阀系统 (AVS) 可降低每次分析成本并使分析效率提高一倍以上

 

● 垂直炬管设计可以测量包括高基质和挥发性有机溶剂在内的复杂样品

 

● 通过分析过程中精准气泡注入控制，可选 AVS 能够有效缩短样品提升、稳定时间和清洗延时，从而实现高精度的分析

 

● 固态 RF 系统可提供稳定的等离子体，确保长期稳定的分析性能

 

●uant 模式使样品中的所有元素一目了然，大大简化了方法开发过程并实现了快速样品筛选

 

● 直观的 ICP Expert 软件和 DSC 技术使方法开发更为便捷流畅

 

● 完全集成式切换阀与即插即用式炬管极大程度减少了培训需求，确保实现快速启动。

 

● 5110 提供三种灵活配置：同步垂直双向观测、垂直双向观测和垂直观测。